Œo—ð(Personal history)

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 1963/03@@“Œ‹ž‘åŠw HŠw•” ¸–§HŠw‰È@@‘²‹Æ
 1965/03@@“Œ‹ž‘åŠw ‘åŠw‰@ ”•¨ŒnŒ¤‹†‰È ¸–§HŠwêU @@@CŽm‰Û’öC—¹(HŠwCŽm)@
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 1978/04@@“Œ‹ž”_H‘åŠw•‹³ŽöEHŠw•” ¶ŽY‹@ŠBHŠw‰È
 1984/08@@“Œ‹ž”_H‘åŠw‹³ŽöEHŠw•” ‹@ŠBƒVƒXƒeƒ€HŠw‰È
 2003/03@@“Œ‹ž”_H‘åŠw‚ð’â”N‘ÞŠ¯CŒ»Ý–¼—_‹³Žö
@@@@@@@@@* 1983 鼎•‰È‘åŠw”ñí‹ÎuŽtŽ•Šw•”i-1985j
@@@@@@@@@* 1998 •ŸˆäŒ§H‹Æ‹ZpƒZƒ“ƒ^[‹qˆõŒ¤‹†ˆõi-1999j
@@@@@@@@@* 2003 ŽR—œŒ§H‹Æ‹ZpƒZƒ“ƒ^[‹qˆõŒ¤‹†ˆõi-2004j
 2003/04-2005/03@@Š”Ž®‰ïŽÐƒ~ƒcƒgƒˆ ì茤‹†ŠJ”­ƒZƒ“ƒ^ ‹ZpŒÚ–â
 2004/10@@ NPO–@l ŽOŽŸŒ³HŠw‰ï —Ž–’·i-Œ»Ýj
 2006/04-2010/03@@é‹Êˆã‰È‘åŠw‹³ŽöE•ÛŒ’ˆã—Êw•” ˆã—p¶‘ÌHŠw‰È
 2010/04-2012/03@@é‹Êˆã‰È‘åŠw‹qˆõ‹³ŽöE•ÛŒ’ˆã—Êw•” ˆã—p¶‘ÌHŠw‰È
 2010/08-2010/09 ƒXƒg[ƒj[ƒuƒ‹ƒbƒN‘åŠw–K–⋳Žö (Visiting professor, State Univ. of NY)

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23Handbook of Optical Metrology: Principles ad Applications, Revised Ed.
  i‚s‚‚™‚Œ‚‚’•‚e‚’‚‚Ž‚ƒ‚‰‚“C2015/04j
22. ŒõŒv‘ªƒ|ƒPƒbƒgƒuƒbƒN@i’©‘q‘“XC2010/02j
21Handbook of Optical Metrology: Principles ad Applicationsi‚s‚‚™‚Œ‚‚’•‚e‚’‚‚Ž‚ƒ‚‰‚“C2009/02j
20. Two- and Three-Dmensional Methods for Inspection and Metrology (SPIE Proceedinds
  Vol.7066, 2008/08)
19. ŒõŽOŽŸŒ³EŽY‹Æ‚ւ̉ž—piƒAƒhƒRƒ€ƒƒfƒBƒAC2008/06j
18. ‹@ŠBHŠw•Ö——EŒv‘ªHŠw•Ò’†‚Ìu‰æ‘œ‰ž—pŒv‘ªv@i“ú–{‹@ŠBŠw‰ïC2007/12j
17 .ÅVŒõŽOŽŸŒ³Œv‘ªi’©‘q‘“XC2006/11j
16 Optomechatronic Systems ‡ViSPIE Proceedingsj
15 ŽOŽŸŒ³‰æ‘œ—pŒêŽ–“TiV‹ZpƒRƒ~ƒ…ƒjƒP[ƒVƒ‡ƒ“ƒYj
14 ŽÀ—pŒõƒL[ƒ[ƒhŽ–“Ti’©‘q‘“XC1999/04j
13 Polarization analysis@and applications to device technology (SPIE Proceedings)
12 ‰æ‘œˆ—‚ÆŽ‹Šo”FŽ¯iƒI[ƒ€ŽÐj
11 ŽŸ¢‘ã‚Ì’´¸–§‰ÁH‹Zp@i‰ºŠªj
10 Œõ‘ª’èƒnƒ“ƒhƒuƒbƒN(’©‘q‘“X)
09 Œõƒwƒeƒƒ_ƒCƒ“‹ZpiV‹ZpƒRƒ~ƒ…ƒjƒP[ƒVƒ‡ƒ“ƒY@‰”ÅC‰ü’ù”Åj
08 ŽOŽŸŒ³HŠw1@ŒõŽOŽŸŒ³Œv‘ªiV‹ZpƒRƒ~ƒ…ƒjƒP[ƒVƒ‡ƒ“ƒY@1993/03‰”ÅC1998/12‰ü’ù”Åj
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